应用笔记 (共23个)
Introduction：AN169主要用于如何从GD32E230系列移植到GD32E235系列，以及有关注意事项。
Introduction：AN191介绍了GD32 MCU在硬件layout方面的注意事项。
Introduction：AN181介绍了GD32 MCU的I2C噪声滤波器及相关保持时间和建立时间计算。
Introduction：AN092专为基于GD32 MCU开发的工程设计人员提供，主要介绍了GPIO的功能配置、内部结构以及在不同场景使用时的注意事项
Introduction：AN192描述了如何使用GD32 MCU进行展频测试，并以GD32F470为例介绍相关操作步骤及影响。
Introduction：AN95主要用于指导客户提高使用GD32 MCU温度传感器使用精度的方法。
Introduction：AN074专为基于GD32E23x系列MCU开发者提供，对GD32E23x系列产品硬件开发做了总体介绍。
Introduction：AN196主要介绍了在MCU主频高的情况下，可以采用FLASH模拟EEPROM来降低成本。本文介绍了一种采用FLASH模拟EEPROM的方法，实现了EEPROM按字节进行数据修改，可防止复位或掉电产生的数据丢失。
Introduction：AN163为MCU的硬件设计提供了一些硬件EMC防护设计的参考，旨在为优化MCU在产品应用过程中的EMC性能提供帮助。
Introduction：AN145主要用于介绍了GD32E235与GD32E230系列之间的外设接口、电气性能等差异。
Introduction：AN142 介绍了电机及其驱动系统中EMC的来源及一些改善方式，帮助用户快速了解并优化驱动系统中的重点电路。
Introduction：AN164 介绍了Dhrystone的原理与在GD32 MCU上的移植
Introduction：AN125 主要介绍了MCU芯片级RE测试方法及注意事项，帮助用户快速了解芯片级RE测试。
Introduction：AN159介绍了MCU芯片级ESD和系统级ESD测试方法以及测试等级之间的差异，帮助用户明确芯片级ESD和系统级ESD之间的不相关性。
Introduction：AN065介绍在GD32 MCU上移植FATFS文件系统的方法。
Introduction：AN128 主要介绍了MCU系统级EFT测试方法和实验实施细节以及注意事项，帮助用户快速了解数据手册中EFT参数含义和测试细节。
Introduction：AN127 介绍了MCU系统级ESD测试方法和实验实施细节以及注意事项，帮助用户快速了解数据手册中ESD参数含义和测试细节。
Introduction：AN089介绍了触摸按键（TouchKey）软件库的设计原理以及使用方式，能够帮助开发者快速地使用TouchKey软件库进行工程配置和开发。
Introduction：AN096介绍通过编写下载算法和程序，将代码下载到片外Flash并在片外SDRAM运行的方法。
Introduction：AN059 介绍了GD32 SAR ADC的基本工作原理，并从理论与实际采样过程等多个角度提出了提高ADC采样精度的方法。
Introduction：AN052旨在描述GD32 MCU基于谐振器的时钟电路原理和应用注意事项，方便开发者更快速地实现设计方案到电路的转换。
Introduction：AN064旨在描述使用TIMER对低速内部时钟进行校准的方法。
Introduction：AN062旨在介绍EMC原理和特征，并根据各种应用条件提供EMC应用相关建议。
